作者:标准资料网 时间:2024-04-28 07:01:11   浏览:8122   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Microwavediodesandtransistors-Microwavefieldeffecttransistors-Blankdetailspecification-BDSformicrowavefield-effecttransistors
【原文标准名称】:微波二极管和晶体管.微波场效应晶体管.空白详细规范
【标准号】:BSIEC60747-4-1-2000
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:2000-09-15
【实施或试行日期】:2000-09-15
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:晶体管;二极管;分立式;微波晶体管;电子设备及元件;半导体器件
【英文主题词】:Diodes;Discrete;Electronicequipmentandcomponents;Microwavetransistors;Semiconductordevices;Transistors
【摘要】:Semiconductordevices—Discretedevices—Part4-1:Microwavediodesandtransistors—Microwavefieldeffecttransistors—Blankdetailspecification1Mechanicaldescription2Shortdescription3Categoriesofassessedquality4Limitingvalues(absolutemaximumratingsystem)commontoallapplications5Electricalcharacteristics6Marking7Orderinginformation8Testconditionsandinspectionrequirements
【中国标准分类号】:L44
【国际标准分类号】:31_080_30
【页数】:20P;A4
【正文语种】:英语