DIN 50456-3-1999 半导体工艺技术用材料的试验.电子元件模塑化合物材料的特性表示法.第3部分:阳离子杂质的测定
作者:标准资料网
时间:2024-05-11 20:03:39
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【英文标准名称】:Testingofmaterialsforsemiconductortechnology-Methodforthecharacterisationofmouldingcompoundsforelectroniccomponents-Part3:Determinationofcationicimpurities
【原文标准名称】:半导体工艺技术用材料的试验.电子元件模塑化合物材料的特性表示法.第3部分:阳离子杂质的测定
【标准号】:DIN50456-3-1999
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:1999-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电导性;半导体材料;半导体;阳离子;试验设备;杂质;pH值;材料试验;半导体工艺;电气工程;萃取分析法;电子设备及元件;压力试验;特性;模压材料;材料;半导体器件;电子工程;试验;试样;环氧树脂
【英文主题词】:
【摘要】:ThedocumentdefinesamethodforthedeterminationofNa,KandCAinmouldingcompoundsforelectroniccomponentsbyanalysisofanaqueousextractoftheepoxyresinmouldingcompoundbymeansofthepressurecookertestaccordingtoDIN50456-2.#,,#
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:2P;A4
【正文语种】:德语
【原文标准名称】:半导体工艺技术用材料的试验.电子元件模塑化合物材料的特性表示法.第3部分:阳离子杂质的测定
【标准号】:DIN50456-3-1999
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:1999-08
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电导性;半导体材料;半导体;阳离子;试验设备;杂质;pH值;材料试验;半导体工艺;电气工程;萃取分析法;电子设备及元件;压力试验;特性;模压材料;材料;半导体器件;电子工程;试验;试样;环氧树脂
【英文主题词】:
【摘要】:ThedocumentdefinesamethodforthedeterminationofNa,KandCAinmouldingcompoundsforelectroniccomponentsbyanalysisofanaqueousextractoftheepoxyresinmouldingcompoundbymeansofthepressurecookertestaccordingtoDIN50456-2.#,,#
【中国标准分类号】:H82
【国际标准分类号】:29_045
【页数】:2P;A4
【正文语种】:德语
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